碳化硅微粉、白剛玉微粉測量方法介紹

沉降法

       沉降法是基于顆粒在液體中的沉降符合斯托克斯定律這一原則，根據(jù)顆粒在液體中的*終沉降速度來計算顆粒的粒徑。在實際操作中，由于測試顆粒的*終沉降速度存在較大困難，因此，所有沉降儀都是測量與*終沉降速度相關(guān)的其它物理參數(shù)，如壓力、密度、重量、濃度或光透過率等，進(jìn)而求得顆粒的粒徑分布。碳化硅微粉、白剛玉微粉測量方法介紹

沉降法又分為重力沉降和離心沉降兩種，重力沉降的測試范圍通常為0.5 ～ 100μm ，離心沉降可測量的粒徑范圍為0.05 ～ 5μm 。目前，沉降式顆粒儀一般都采用重力沉降和離心沉降相結(jié)合的方式.碳化硅微粉、白剛玉微粉測量方法介紹

電阻法

       電阻法又稱庫爾特計數(shù)法，適合對粒度分布比較窄的顆粒進(jìn)行測量。它的工作原理相對比較簡單：懸浮在電解液中的顆粒在負(fù)壓作用下通過一個由紅寶石制成的小孔，兩個鉑電極組成的電阻式傳感器分別插浸在小孔的兩側(cè)，顆粒通過小孔時電極間電阻增大，產(chǎn)生一個電壓脈沖。脈沖的幅值對應(yīng)于顆粒的體積和相應(yīng)的粒徑，脈沖的個數(shù)對應(yīng)于顆粒的個數(shù)。對所有各個測量到的脈沖計數(shù)并確定其幅值，即可得出顆粒的大小，統(tǒng)計出顆粒的分布。電阻法是今為止分辨率*高的粒度分析技術(shù)。碳化硅微粉、白剛玉微粉測量方法介紹

激光衍射法

        激光衍射法(又稱小角前向散射法)是散射式激光測粒技術(shù)中發(fā)展*為成熟、應(yīng)用*為普遍的一種方法，它通過測量顆粒在前向某一小角度范圍內(nèi)的散射光能分布，利用經(jīng)典的Mie 散射理論和對大顆粒適用的夫瑯和費理論，求得顆粒粒徑的大小和分布。對于粒徑較大的顆粒，由于在前向小角度范圍內(nèi)的散射以衍射為主，因此，小角前向散射法又稱為衍射法。碳化硅微粉、白剛玉微粉測量方法介紹

激光衍射法的適用性廣，粒徑測量范圍寬，測量準(zhǔn)確，精度高，重復(fù)性好，測量速度快，需要提供的物理參數(shù)少，可在線測量等，故而得到廣泛應(yīng)用。

將激光粒度儀(激光衍射法)、庫爾特計數(shù)儀(電阻法)和離心粒度分析儀(沉降法)這三種使用*普遍的粒度分析儀的測試結(jié)果相比較，對其中位徑D50值的標(biāo)準(zhǔn)方差進(jìn)行統(tǒng)計分析可得：激光粒度儀的標(biāo)準(zhǔn)方差平均為0.008；庫爾特計數(shù)儀的標(biāo)準(zhǔn)方差平均為0.097；離心粒度分析儀的標(biāo)準(zhǔn)方差平均為0.219。由此可見，激光粒度儀的測得的D50值的標(biāo)準(zhǔn)方差*小，測量結(jié)果重復(fù)性*好，精度高，離心粒度儀的測量重復(fù)性及測量精度相對*差。